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InGaAs相機激光光束質量分析儀FemtoEasy

InGaAs相機激光光束質量分析儀FemtoEasy

簡要描述:
Femto Easy BeamPro 光束分析儀配備多種基于 SWIR InGaAs 的傳感器,可測量 400 - 1700 nm 范圍內的激光束。SWIR 5.4短波紅外InGaAs相機激光光束質量分析儀FemtoEasy

更新時間:2025-09-03

訪問量:306

廠商性質:生產廠家

生產地址:法國

Femto Easy BeamPro 光束分析儀配備多種基于 SWIR InGaAs 的傳感器,可測量 400 - 1700 nm 范圍內的激光束。

主要特征

● SWIR 范圍內最小像素尺寸和最高分辨率: 3.45 µm / 5 Mpix

● 基于 InGaAs 的光束分析儀,適用于可調諧激光束、拉曼、3 光子顯微鏡、電信等

● 可用面積大:激光束直徑可達 30 mm

規格參數

型號SWIR 5.4
傳感器尺寸 (mm)4.8 x 3.8
傳感器格式S

1/2"
光譜范圍 (nm)900-1700
分辨率320 x 256
0.08 Mpx
像素尺寸 (μm)15.0
Shutter typeGlobal
最小光束直徑(Φ FWHM, μm)①75
最大采集幀率(fps)②1000
最小曝光時間10 µs
最大曝光時間500 ms
動態范圍 (dB)63
傳感器類型InGaAs
位深度14
PC接口USB 3.1
同步Yes (witd tde Trigger option)
尺寸 (mm)46 x 46 x 57

1、最小光束直徑的測量精度優于 1%。較小的光束直徑也可以測量,但誤差會逐漸增大。

2、根據計算類型,幀速率可能會有所不同。

光束輪廓圖

InGaAs相機激光光束質量分析儀FemtoEasy

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深圳市博納德精密儀器有限公司是一家進口儀器渠道商,代理的產品有:Quantel激光器、激光功率計、FemtoEasy光束分析儀、光束收集器、光斑分析儀、高功率連續變焦光纖激光器準直頭FAC、SRS斯坦福放大器、Scitec光學斬波器等其它專業設備,如有需求可以聯系咨詢我們。

SWIR 5.4短波紅外InGaAs相機激光光束質量分析儀FemtoEasy

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